Α) Οπτική Μικροσκοπία και Μικροσκοπία Φθορισμού. Αποτελείται από:

  • Μικροσκόπιο Carl Zeiss με δυνατότητες οπτικής μικροσκοπίας ανοσοφθορισμού, φωτογράφησης και ψηφιακής ανάλυσης εικόνας (Δωρεά Ιδρύματος Μποδοσάκη, 2001) και συνοδά εξαρτήματα αντικειμενικούς φακούς, πηγή UV φωτός και ειδικά φίλτρα φθορισμού.

  • συνοδός του μικροσκοπίου ψηφιακή camera/φωτογραφική μηχανή NIKON με δυνατότητα λήψης ψηφιακών φωτογραφιών υψηλής ανάλυσης.

Β) Στερεοσκοπία. Αποτελείται από Στερεοσκοπίο Olympus με αναλογική φωτογραφική μηχανή (Zeiss MC80DX).

Γ) Συνεστιακής Μικροσκοπίας. Αποτελείται από:

  • Συνεστιακό μικροσκόπιο Nikon D-Eclipse C1 με 3 κανάλια φθορισμού και ανάστροφο μικροσκόπιο Nikon Eclipse TE 2000-U (με δυνατότητα οπτικής μικροσκοπίας, μικροσκοπίας αντίθεσης φάσης και φθορισμού).

  • Αντικειμενικοί φακοί: 1) 10x/0.25 Nikon Plan Ph1 DL, 2) 20x/0.40 Nikon Plan Ph1 DL, 3) 40x/0.65 Nikon Plan Ph2 DL, 4) 40x/0.75 Nikon Plan Fluor DICM/N2 και 5) 60x/1.4 Nikon VC.

  • Ψηφιακή κάμερα Nikon DS-5M και μονάδα ελέγχου DS-5M (με LCD οθόνη 6.3 ιντσών)

  • Φίλτρα φθορισμού (DAPI: 365 nm excitation, 445/50 nm emission, FITC: 470/40 nm excitation, 525/50 nm emission και Rhodamine: BP 545/25 nm excitation, 605/70 nm emission)

  • Γραμμές Laser (για συνεστιακή ανάλυση): 1) 488 nm: Argon ion laser, 30 mW, 2) 543 nm: Helium-Neon laser, 1mW και 3) 633 nm: Helium-Neon laser, 15mW

  • Υπολογιστική υποστήριξη και προγράμματα: υπολογιστής Hewlett-Packard με οθόνη LCD Hewlett-Packard (HP LP206520’’), λειτουργικό Microsoft Windows XP Professional και πρόγραμμα ελέγχου για το C1 συνεστιακό μικροσκόπιο (EZ-C1 ver. 3.20).